GIV-20A系列

GIV-20A系列太陽電池組件測試儀為直射光結構，模擬真實太陽光照射條件，可根據現場環境實現側打光/上打光安裝模式，A+A+A+級光源配置；滿足300-1200nm全光譜，脈沖寬度10ms至100ms可調。

測試對象：適用于普通太陽晶硅組件(PERC、N型、IBC以及HIT等)電性能參數的測試，同時兼容MBB、半片、疊片等組件的測試。


主要技術參數


型號 XJCM-20A系列 GIV-40A系列
最大可測組件尺寸 2600mm X 1600mm 2600mm X 1600mm
脈沖寬度 10-100ms 10-100ms
幅照度范圍 700-1200W/㎡ 700-1300W/㎡
光譜范圍 300nm-1200nm 300nm-1200nm
光譜匹配度 0.875-1. 125(A+級) 0.875-1. 125(A+級)
幅照度不穩定性 <0.5% A+級 <0.5% A+級
幅照度不均勻性 <1% A+級 <1% A+級
測量范圍 電壓：1V/4V/10V/70V/200V
電流：2A/4A/15A/25A/40A(軟件選擇) 		電壓：1V/4V/10V/70V/200V
電流：2A/4A/15A/25A/40A(軟件選擇)